Products 製品紹介

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製品概要

電離箱線量計・固体検出器

microSilicon X

microsiliconXはdiodePの後継となるシリコン半導体検出器です。新開発シールドにより、microSilicon Xは小照射野から大照射野まで、高い空間分解能での測定を可能にします。その優れた空間分解能により、半影領域を含めて非常に正確なビームプロファイル測定が可能です。
エネルギー依存性、線量直線性、温度依存性、線量率特性(Dose/Pulse)および擾乱の影響が従来のDiodePから大幅に改善され、ユーザーはより確かなビームデータ測定を行うことが可能になります。さらに新たに開発された水等価のシールドによってmicroSiliconXの計測値は、多くの条件でより水等価なものになりました。

POINT

Point ポイント

  • 40cm×40cmまでの照射野を測定可能なX線用シールドダイオード検出器
  • シールディングにより、検出器シグナルに混入する低エネルギー光子成分を低減
  • 照射野サイズに依存せず、高い空間分解能での測定が可能
  • 優れた線量安定性(6MVにて0.1%/kGy以下)
  • 線量率特性(Dose/Pulse)依存性が改善

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